分析装置・計測装置
走査型電子顕微鏡(SEM)
X線回折装置(XRD)
原子間力顕微鏡(AFM)
走査型トンネル顕微鏡(STM)
強誘電体ヒステリシス測定装置
ネットワークアナライザ
反射分光膜厚計
接触段差計
共焦点レーザー顕微鏡
走査型電子顕微鏡(SEM)
X線回折装置(XRD)
原子間力顕微鏡(AFM)
走査型トンネル顕微鏡(STM)
強誘電体ヒステリシス測定装置
ネットワークアナライザ
反射分光膜厚計
接触段差計
共焦点レーザー顕微鏡
Dielectric nano-devices, Research Institute of Electrical Communication, Tohoku University | PAGE TOP |