分析装置・計測装置
走査型電子顕微鏡(SEM)

X線回折装置(XRD)

原子間力顕微鏡(AFM)

走査型トンネル顕微鏡(STM)

強誘電体ヒステリシス測定装置

ネットワークアナライザ

反射分光膜厚計

接触段差計

共焦点レーザー顕微鏡

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X線回折装置(XRD)
原子間力顕微鏡(AFM)
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Dielectric nano-devices, Research Institute of Electrical Communication, Tohoku University | PAGE TOP |