50th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference (SISC)

日　程：　2019年12月12日〜12月14日

会　場：　Bahia Resort Hotel, サンディエゴ，アメリカ合衆国

参加者：　長, 山末

以下のポスター発表を山末が行いました

K. Suzuki, K. Yamasue, and Y. Cho, A new evaluation technique for interface defect density on high-κ/SiO2/Si and SiO2/Si gate stacks using scanning nonlinear dielectric microscopy

A. Hosaka, K. Yamasue, J. Woerle, G. Ferro, U. Grossner, M. Camarda, and Y. Cho, Interface defect density evaluation on macrostepped SiO2/SiC using local deep level transient spectroscopy based on scanning nonlinear dielectric microscopy

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諸事情で急遽参加することに．実は西海岸は初めてだったりします．

学会会場からの光景．リゾート地です．

軍港でもありました．

会場近辺の砂浜．西海岸といえばこんなイメージかも．

左は水泳，右はサーフィン．

食べ物を持っていると思うのか，鳥がすーっと近寄ってきました．万国共通．

明らかにこちらを視野に収めているくせに，素知らぬフリをしている様子．微妙な間合いに．

西海岸の日没

思ったよりは寒かったですが，温暖でした

ポスター発表会場

バンケットで開催される伝統のLimerick contest．理系的なノリの大喜利のような感じ．思いの外，爆笑に次ぐ爆笑．だがついていけない．

来年もやはりサンディエゴで開催されるようです．