The International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA2019)

日　程：　2019年7月2日~2019年7月5日

会　場：　TGRAND HYATT HANGZHOU, 杭州市, 中国

参加者：　長教授

IPFA2019に参加しまして以下の発表をおこないました．

High Resolution Mapping of Defects at SiO2/SiC Interfaces by Local-DLTS Based on Time-Resolved Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

IPFA2019の看板（クリック）世界遺産の杭州市の西湖

次回はまたシンガポールで開催されます．