International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA2018), Phoenix, Arizona, USA

日　程：　2018年10月28日~11月1日

会　場：　Phoenix Convention Center, Phoenix, Arizona, USA

参加者：　長, 広田さん（東芝メモリ）

以下の3件の発表を行いました

Quantitative imaging of carrier distribution in silicon solar cell using scanning nonlinear dielectric microscopy

High resolution mapping of subsurface defects at SiO2/SiC interfaces by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy

　

Novel carrier measurement methodology for floating gate of sub-20 nm node flash memory using scanning nonlinear dielectric microscopy

ISTFA2018の会場のPhoenix Convention Center（クリック）開会式

Phoenix Convention Center

アンテロープキャニオン　アッパー渓谷 鉄砲水でできた渓谷です（クリック）アンテロープキャニオン　アッパー渓谷

アンテロープキャニオン　アッパー渓谷

アンテロープキャニオン　ロアー渓谷（クリック）アンテロープキャニオン　ロアー渓谷

アンテロープキャニオン　ロアー渓谷

次回のISTFA2019はPortlandで開催されます．