29th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis(ESREF2018)

日　程：　2018年10月1日~2018年10月5日

会　場：　Aalborg Kongres & Kultur Center, Aalborg, Denmark

参加者：　長教授

ESREF20182018にて以下の講演を行いました

“High resolution observation of defects at SiO2/4H-SiC interfaces by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy"

ESREF2018の会場のAalborg Kongres & Kultur Center（クリック）開会式

参加者の国別情報．中国が圧倒的です．このままで良いのか日本（クリック）オールボー市内の築400年の居酒屋

ESREF2018のエクスカーションで訪れたデンマークの古城（１）（クリック）古城（２）

ISPM2018のエクスカーションで（クリック）バンケットの一コマ

次回はフランスToulouseで開催