International Scanning Probe Microscopy (ISPM2018)&TechConnect World Innovation Conference & Expo.

日　程：　2018年5月8日~2018年5月11日&2018年5月13日~2018年5月16日

会　場：　Arizona State University, Tempe, AZ, U.S.A. & Anaheim Convention Center, Anaheim, CA, U.S.A.

参加者：　長教授

ISPM2018にて以下の講演を行いました

“Scanning nonlinear dielectric microscopy　in peak-force tapping mode and its application to transition metal dichalcogenides"

引き続きTechConnect World Innovation Conference & Expo.にて以下の講演を行いました

“Quantitative measurement of active dopant density distribution in textured emitter of phosphorus-implanted monocrystalline silicon solar cell using scanning nonlinear dielectric microscopy"

ISPM2018の会場のArizona State University（クリック）会場入口

会場入口

発表中の金沢大学福間教授（クリック）ASUのフーコ振子

フーコ振子

ISPM2018のエクスカーションにて（クリック）ISPM2018のエクスカーションにて

エクスカーション

ISPM2018のエクスカーションにて・グランドキャニオン（クリック）グランドキャニオンのリス

昼食

引き続きAnaheimへ移動してTechConnect World Innovation Conference & Expo.に参加（クリック）アナハイムのエンジェルス球場

球場