The 17th International Conference Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors(DRIPXVII)

日　程：　2017年10月8日~10月12日

会　場：　Hotel Olid, Valladolid, Spain

参加者：　長教授

DRIPXVIIにて以下のタイトルの発表を行いました

“Two-dimensional imaging of MOS interface trap using local deep level transient spectroscopy based on scanning nonlinear dielectric microscopy"

マドリッドの王宮（クリック）王宮内部

バリャドリッドの彫刻博物館（クリック）バリャドリッド大学

ワインの醸造所（クリック）説明のお姉さん

郊外のお城（クリック）お城の夜景

次回は２年後ベルリンの予定です