The 19th International Scanning Probe Microscopy Conference

日　程：　2017年5月7日〜5月11日

会　場：　Georgia Institute of Technology

参加者： 長， 平永

以下の講演を行いました

• Ferroelectric Probe Data Storage Using HfO₂-Based Thin-Film Recording Media
• Dynamic Observation of Nanoscale Domain Switching Behaviors in Ferroelectric HfO₂ films Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

滞在したホテル付近の某レストランにて．オーガニックな感じで，意外にも（？）優しい味わいでした

こちらはいかにもこの国らしい食事

この国らしいと言えば，学会の合間にこのような場所にも少しだけ寄らせて頂きました・・・

来年の会場は広島です．カキ食べたい・・・けど，季節的には？