Microscopy of Semiconducting Materials XX(MSM XX)

日　程：2017年4月9日-4月13日

会　場：Lady Margaret Hall, Oxford , UK

参加者：長教授

MSM XXに参加し下記の発表を行いました．

Local deep level transient spectroscopy for two-dimensional trap distribution in MOS interface using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy

会場の旅の途中で立ち寄ったロンドンのScience Museum

Science Museum内最古の蒸気機関車. （クリック）　Science Museumに展示されている日野コンテッサ．

イクスカーションのGHOST TRAILS. （クリック）　いかにもイギリス紳士．

発表中に肉離れを起こしロンドンの病院へ．