Microscopy of Semiconducting Materials XX(MSM XX)

日 程:2017年4月9日-4月13日

会 場:Lady Margaret Hall, Oxford , UK

参加者:長教授

MSM XXに参加し下記の発表を行いました.

Local deep level transient spectroscopy for two-dimensional trap distribution in MOS interface using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy


会場の旅の途中で立ち寄ったロンドンのScience Museum

Science Museum

Science Museum内最古の蒸気機関車. (クリック) Science Museumに展示されている日野コンテッサ.

日野コンテッサ

イクスカーションのGHOST TRAILS. (クリック) いかにもイギリス紳士.

紳士

発表中に肉離れを起こしロンドンの病院へ.