第64回応用物理学会春季学術講演会
- 走査型非線形誘電率ポテンショメトリを用いたGaN の自発分極測定に関する実験的検討
- 電流計測AFMとSNDMによるSiO2/4H-SiC界面の不均一性評価
- ∂C/∂z-SNDM法によるナノスケール線形誘電率分布の定量測定
- 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたリンイオン注入単結晶Si太陽電池の活性化ドーパント分布の定量評価及び実効拡散係数の推定
- 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた局所DLTSによる界面トラップ分布の時定数依存性の観察
- 走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたナノスケール分極反転過程の動的観察
日 程：2017年3月14日-3月17
会 場：パシフィコ横浜（神奈川,横浜）
参加者：長教授,山末准教,平永助教,山岸助教,茅根(D3),廣瀬(M2)
発 表：
半年に一度，恒例の応用物理学会に参加いたしました． 今年の会場はパシフィコ横浜です． 会場の写真です．展示ホールではポスターセッションが行われていました．
会場近くにはランドマークタワーがありました．
また，学会恒例の現地での飲み会はおいしい中華料理をいただきました（クリック）．
今度の秋の応物は福岡です．