36th Annual Nano Testing Symposium
- Quantitative analysis of carrier concentration in phosphorus-implanted emitter silicon solar cell using scanning nonlinear dielectric micrscopy(Oral)
- Proposal of Local DLTS using scanning nonlinear dielectric microscopy and its application to high lateral resolution imaging of SiO2/SiC interface traps(Oral)
日 程:2016年11月9日-11月11
会 場:ライフサイエンスセンター(大阪,千里中央)
参加者:茅根(D3),廣瀬(M2)
発 表:
今年もナノテスティングシンポジウムに参加しました。 毎年大阪の千里ライフサイエンスセンターにて行われます。

