International Symposium for Testing and Failure Analysis(ISTFA)

日　程：2016年11月6日-11月10日

会　場：Fort Worth Convention Center, Fort Worth, TX, USA

参加者：長教授

ISTFA 2016に参加し下記の発表を行いました．

Two-dimensional local deep level transient spectroscopy imaging using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy

会場のFort Worth Convention Center(米国の会議場はどこも巨大です）. （クリック）　会場外観．

会場内１. （クリック）　会場内２．

The Sixth Floor Museum（元Texas School Book Depository）. （クリック）　ケネディが狙撃された場所．

来年はISTFA2017としてPasadenaで開催．