7th International Symposium on Control of Semiconductor Interfaces (ISCSI-VII)

  • 日　程：　2016年06月07日-06月11日
  • 会　場：　野依カンファレンスホール（名古屋大学），名古屋
  • 参加者：　茅根
  • 発表
    1. An Universal Parameter Showing SiO2/SiC Interface Quality of Both Silicon and Carbon-face based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy (Oral)
    2. 2-Dimensional Local Deep Level Transient Spectroscopy Imaging of Thermally Oxidized Silicon-Face SiC wafers using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy (Oral)

初日から最終日午前まで

会場までの道中，名大のキャンパス内を見ているとノーベル賞関連のものが目立ちました．
ノーベル物理学賞を記念した建物 ノーベル物理学賞の記念樹 ノーベル化学賞の記念樹
ノーベル賞を記念した建物や記念樹です．

最終日午後

時間が合ったので少し観光してきました．
名古屋城
名古屋城

名古屋市役所
名古屋市役所．素晴らしく立派な建物です．