7th International Symposium on Control of Semiconductor Interfaces (ISCSI-VII)

  • 日 程: 2016年06月07日-06月11日
  • 会 場: 野依カンファレンスホール(名古屋大学),名古屋
  • 参加者: 茅根
  • 発表
    1. An Universal Parameter Showing SiO2/SiC Interface Quality of Both Silicon and Carbon-face based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy (Oral)
    2. 2-Dimensional Local Deep Level Transient Spectroscopy Imaging of Thermally Oxidized Silicon-Face SiC wafers using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy (Oral)

初日から最終日午前まで

会場までの道中,名大のキャンパス内を見ているとノーベル賞関連のものが目立ちました.
ノーベル物理学賞を記念した建物 ノーベル物理学賞の記念樹 ノーベル化学賞の記念樹
ノーベル賞を記念した建物や記念樹です.


最終日午後

時間が合ったので少し観光してきました.
名古屋城
名古屋城

名古屋市役所
名古屋市役所.素晴らしく立派な建物です.