International Symposium for Testing and Failure Analysis 2015 (ISTFA 2015)

日　程：　2015年11月1日~11月5日

会　場：　Oregon Convention Center, Portland, OR, U.S.A.

参加者：　長教授,茅根（D2)，廣瀬（M1)

以下のタイトルの２件の発表を行いました

Carrier Redistribution Analysis of Gate-Biased SiC Power　MOSFET　Using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear　Dielectric Microscopy

Observation of Polarization and Two Dimensional Electron　Gas in AlGaN/GaN Heterostructure Using Scanning　Nonlinear Dielectric Microscopy

成田空港でくつろぐ廣瀬君．（クリック）ポートランドの橋の上で

ポスター発表（廣瀬君）（クリック）ボディラングエッジも英会話の内

ポスター発表（茅根君）（クリック）ポスターの合間で.

オレゴン科学産業博物館で喜々として遊ぶD2（クリック）オレゴン科学産業博物館の目玉（潜水艦）.

潜水艦内部とMr. Submarine（クリック）魚雷発射管.

潜水乗組員（１）（クリック）潜水艦乗組員（２）.

．来年は米国Fortworthで開催されます．