第34回ナノテスティングシンポジウム
日 程： 2014年11月12日−14日
参加者： 茅根（D1)
会 場：ライフサイエンスセンター（大阪,千里中央）
下記のタイトルで研究発表を行いました
Depletion layer distribution analysis in cross-section of biased SiC-DMOSFET using super-higher-order nonlinear dielectric microscopy
会場の写真（クリックで拡大）
今年も来ました．
質問やコメントをくださった方々，誠にありがとうございました．