25th EUROPEAN SYMPOSIUM ON RELIABILITY OF ELECTRON DEVICES, FAILURE PHYSICS AND ANALYSIS (ESREF2014)

日　程：　2014年9月29日〜10月2日

会　場：　Technische Universitat Berlin, Berlin , Germany

参加者：　長教授,茅根（D1)

以下のタイトルの発表を行いました

High resolution imaging of dopant and depletion layer distributions in SiC power MOSFET using sper-hgher-order nonliear dielectric micoscopy

ブランデンブルク門前にて．東西ドイツに別れていた時にはここにベルリンの壁がありました．（クリック）ペルガモン博物館を尋ねたが２時間待ちで断念

旧東ベルリンのテレビ塔．（クリック）ベルリンの熊

ウンター・デン・リンデンとブランデンブルク門．（クリック）ベルリン大空輸に使われた米国製輸送機

学会会場．（クリック）発表風景

ドレスデンの虹（ドレスデンの NaMLabで長教授が講演）、（クリック）ドレスデン大空襲から再建された教会

茅根君初めてのドイツ訪問でした．