17th Internatinal Conference on non-contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM2014)

日 程: 2014年8月4日~8日

会 場: つくば国際会議場, つくば

参加者: 長教授,山末助教,鈴木(M2)

以下の3件のタイトルの発表を行いました

Noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy study of graphene on 4H-SiC(0001) and its hydrogen-intercalation

Surface potentiometry based on scanning nonlinear dielectric microscopy

Observation of electric dipole moments on Si(100)-2×1 surface by using non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy


会場.(クリック)会場

会場

ポスター発表中の鈴木君.(クリック)山末助教

山末先生

JAXAに行きました.(クリック)こうのとり

こうのとり

日本の宇宙開発技術はアメリカの100分の1です.