17th Internatinal Conference on non-contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM2014)

日　程：　2014年8月4日~8日

会　場：　つくば国際会議場, つくば

参加者：　長教授,山末助教，鈴木（M2)

以下の３件のタイトルの発表を行いました

Noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy study of graphene on 4H-SiC(0001) and its hydrogen-intercalation

Surface potentiometry based on scanning nonlinear dielectric microscopy

Observation of electric dipole moments on Si(100)-2×1 surface by using non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy

会場．（クリック）会場

ポスター発表中の鈴木君．（クリック）山末助教

JAXAに行きました．（クリック）こうのとり

日本の宇宙開発技術はアメリカの１００分の１です．