The 2014 International Conference on Nanoscience + Technology (ICN+T)

日　程：　2014年7月20日~25日

会　場：　Vail Cascade Resort Spa, Vail, CO, USA

参加者：　長教授,山末助教，鈴木（M2)

以下の３件のタイトルの発表を行いました

Study of Electric Dipole Moment Distribution on Si(100)-2×1 Surface by Non-Contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

A Novel Method for Simultaneous Measurement of Topography and Dipole-Induced Local Surface Potential Based on Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

High-Resolution Imaging of Hydrogen-Intercalated Graphene on 4H-SiC(0001) Using Non-Contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

ロッキー山脈のまっただ中で．（クリック）山の上で昼食

アメリカの飯

ベイル近郊の鉱山博物館．（クリック）紫外線で光る鉱石

光る石

発表中の山末助教．（クリック）鈴木君

鈴木君

発表後の鈴木君．（クリック）山末助教

山末先生

ベイルの街角（クリック）岩井さんへのお土産

ベイル

ロッキー山脈中のスキーリゾートは美しくまた空気が薄く発表時には息が切れました．